Optosky
SKU:
SX190034OP
Optosky SM200 — Medidor óptico de espesor de películas
Medición no destructiva del espesor de películas delgadas mediante análisis espectral.
Medición no destructiva del espesor de películas delgadas mediante análisis espectral.
Tecnología y aplicación
Metrología óptica de películas. La selección del equipo y de su configuración depende del tipo de muestra, el entorno de trabajo y el objetivo de medición.
Modelos y configuraciones
- SM200
- SM200-UV
- SM200-NIR
Sandox Científica te asesora para definir la configuración adecuada para tu laboratorio o proyecto. Agrega este equipo a tu solicitud de cotización y cuéntanos qué necesitas analizar.
Control de procesos, Caracterización de materiales.
Metrología óptica de películas.
Área
Espectroscopía y Análisis Avanzado
Marca
Optosky
Tecnología / Método
Metrología óptica de películas
Tipo de equipo
Otras técnicas analíticas
Aplicaciones
Caracterización de materiales, Control de procesos
Estado
Activo
Modelos y configuraciones
SM200 / SM200-UV / SM200-NIR
Selección de configuración
Según muestra y aplicación
SANDOX
¿Necesitas este equipo?
Solicita información técnica y cotización a nuestro equipo.
